تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۷۲ ثانیه یافت شد.

1. IDDQ testing of VLSI circuits

پدیدآورنده : edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins

موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

This website is managed by Dar Al-Hadith Scientific-Cultural Institute and Computer Research Center of Islamic Sciences (also known as Noor)
Libraries are responsible for the validity of information, and the spiritual rights of information are reserved for them